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Fabian Kempf, M.Sc.

Wissenschaftlicher Mitarbeiter
Gruppe: Prof. Becker
Raum: 125.3
CS 30.10
Tel.: +49 721 608-45285
kempfEbh3∂kit edu

 Engesserstr. 5

76131 Karlsruhe

M. Sc. Fabian Kempf

Lebenslauf


  • Geboren Mai 1990 in Stuttgart, Deutschland
  • Master-Studium der Elektrotechnik und Informationstechnik am KIT
    • Master-Abschluss im April 2017
    • Titel der Master-Arbeit: "Schätzung der Eigenbewegung von Handheld Devices"
  • Bachelor-Studium der Elektrotechnik und Informationstechnik am KIT
    • Bachelor-Abschluss im August 2014
  • Mitarbeiter am ITIV seit 2017

 

Studentische Arbeiten
Titel Datum
Konzept und Implementierung eines WCTT Modells für ein Network on Chips, basierend auf SystemC offen (zu vergeben)
Konzept und Implementierung eines Simulationsframework von Fehlertoleranzmechanismen für den LEON3 offen (zu vergeben)
Entwicklung einer konfigurierbaren Adressgenerierung für eine Direct Memory Access (DMA) Unit offen (zu vergeben)
Konzept und Implementierung eines dynamischen und prädiktiven Mechanismus zum Nachladen von LEON3 Registern offen (zu vergeben)
Entwicklung eines Machine-Learning-Ansatzes zur Fehlererkennung, basierend auf Bus-Snooping offen (zu vergeben)
Analyse, Konzeptionierung und Evaluation von Hardwarebeschleunigung im Umfeld von Visual Odometry Algorithmen offen (zu vergeben)


Publikationen


2019
Zeitschriftenaufsätze
Worst-Case Execution-Time-Aware Parallelization of Model-Based Avionics Applications [in press].
Reder, S.; Kempf, F.; Bucher, H.; Becker, J.; Alefragis, P.; Voros, N.; Skalistis, S.; Derrien, S.; Puaut, I.; Oey, O.; Stripf, T.; Ferdinand, C.; David, C.; Ulbig, P.; Mueller, D.; Durak, U.
2019. Journal of aerospace information systems, 1–14. doi:10.2514/1.I010749
2018
Proceedingsbeiträge
Data Reduction and Readout Triggering in Particle Physics Experiments Using Neural Networks on FPGAs.
Baehr, S.; Kempf, F.; Becker, J.
2018. Proceedings of the 18th International Conference on Nanotechnology (IEEE-NANO 2018), Cork, IRL, July 23-26, 2018, IEEE. doi:10.1109/NANO.2018.8626239
Data Readout Triggering for Phase 2 of the Belle II Particle Detector Experiment Based on Neural Networks.
Baehr, S.; Kempf, F.; Becker, J.
2018. Proceedings of the 31th IEEE International System-on-Chip Conference (SOCC), Arlington, VA, September 4-7, 2018, 174–179, IEEE. doi:10.1109/SOCC.2018.8618563