deutsch  | Home | Legals | Data Protection | KIT
Dr. Bieser

Dr.-Ing. Carsten Bieser

Prüfung: 05.07.2007
Konzept einer bibliotheksbasiert konfigurierbaren Hardware-Testeinrichtung für eingebettete elektronische Systeme
group: Prof. Dr.-Ing. Klaus D. Müller-Glaser

Korreferent:   Prof. Dr.-Ing. Sorin Huss
                      TU Darmstadt